SJT 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
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ID： |
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文件大小(MB)： |
0.53 |
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页数： |
37 |
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日期： |
2009-6-12 |
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ICS 31.,L55,备案号:,2o,8119-2001 SJ,中华人民共和国电子行业标准,SJ/T 10741- 2000,半 导 体 集 成 电 路,CMOs电路测试方法的基本原理,Se mi con du ct or in teg ra ted c ircuits,General principles of measuring methods for CMOS circuits,2000-12-28发布2001-03-01实施,中华人民共和国信息产业部批准,前言,本 标 准 在原国家标准GB 3834-83《半导体集成电路CMOs电路测试方法的基本,原理》的基础上进行修订,本标 准 与 GB3 834相比，所考虑的主要性能参数基本相同，技术内容作了相应改动,删除了有关开关电路的儿个参数,本标 准 的 编制、修订有利于我国半导体集成电路行业的技术交流和经济交流,本 标 准 代替GB3 834-83.,本 标 准 由信息产业部提出,本 标 准 由中国电子技术标准化研究所归口,本 标准 起 草单位:中国电子技术标准化研究所,本 标 准 主要起草人:李燕荣、孙人杰,本 标准 首 次发布时间:1983年,目次,范围一(1),引用标准. . (1),定义，.. (1),要求. . (1),5 静态参数测试，.. (1),5.1 输入钳位电压1'IK .. (1),5.2 输入高电平电压vIH.. (2),5.3 输入低电平电压v[L.. (3),5.4 输入正向闺值电压岭TF (4),5.5 输入负向闺值电压‘. (5),5.6 滞后电压△玲.. (6),5.7 输出高电平电压吮。，.. (6),5.8 输出低电平电压呢:。。.. (7),5.9 输入高电平电流IIH ，，。. (8),5.10 输入低电平电流IIL.. (9),5.11 输出高电平电流IOH (10),5.12 输出低电平电流I0L.. . (II ),5.13 输出高阻态时高电平电流IOZH.. (12),5.14 输出高阻态时低电平电流IOZL.。一(13),5.15 电源电流几。。.. (14),5.16 输出短路电流Ios (15),6 动态参数测试.. (16),6.1 输入电容C,和输出电容Co 一(16),6.2 动态电源电流I (17),6.3 建立时间t,. (18),6.4 保持时间t,,。.. (19),6.5 最高时钟频率f. (21),6.6 输出由低电平到高电平传输延迟时间LPLH (22),6.7 输出由高电平到低电平传输延迟时间LPHL (23),6.8 输出由高阻态到高电平传输延迟时间tpzH (25),6.9 输出由高阻态到低电平传输延迟时间tPZL (26),6.10 输出由高电平到高阻态传输延迟时间tpHZ.. (28),6.11 输出由低电平到高阻态传输延迟时间LPLZ 一(29),6.12输出由低电平到高电平转换延迟时间LTLH.. (31),6.13 输出由高电平到低电平转换延迟时间t丁HL.. (32),中华人民共和国电子行业标准,半导 体 集 成 电路,CMOs电路测试方法的基本原理,SJ/T 10741-2000,代替GB/T 3834-83,Se mi co nd uc to ri n t eg ra te dc ircuits,General principles of measuring methods for CMOS circuits,1 主题内容与适用范围,本标 准 规 定了半导体集成电路CMOS电路(以下简称器件)电特性测试方法的基,本原理,本 标 准 适用于半导体集成电路CMOS电路电特性的测试,2 引用标准,GB /T 17 574-98 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路,SJ/ T 1 07 34-% 半导体集成电路文字符号电参数文字符号,3 定义,本标 准 所 有电参数符号和定义符合GB/T 17574和SJ/T1 0734的规定,4 要求,4.1 若无特殊说明，测试期间，环境或参考点温度偏离规定值的范围应符合器件详细,规范的规定,4-2 测试期间，应避免外界千扰对测试精度的影响。测试设各引起的测试误差应符合,器件详细规范的规定,4.3 测试期间，施于被测器件的电源电压应在规定值的土1%以内。施于被测器件的其,他电参量的准确度应符合器件详细规范的规定,4.4 被测器件与测试系统连接或断开时，不应超过器件的使用极限条件,4.5 具有内部存储或滞后特性的器件，应规定预置条件,4.6 测试期间，应避免因静电放电而引起器件损伤,4.7 测试期间，非被测输入端不得悬空,5 静态参数测试,5. 1 输入钳位电压VIK,5.1.1 目的,中华人民共和国信d产业部2000-12-28批准2001-03-01实施,一 1 一,SJ /T 10 74 1 - 20 0 0,测 试带 有 附加钳位二极管的输入端输入钳位电压,5.1.2 测试电路图,VIK 的 测 试电路图如图1所示,图 1,5.1.3 测试条件,测 试 期 间，下列测试条件应符合器件详细规范的规定,a. 环 境或参考点温度;,b. 电 源 电压VDD;,C. 输 入 端流入或流出电流lIK;,d. 输 出端开路,5.1.4 测试程序,5.1.4.1 在规定的环境条件卜，将被测器件接入测试系统中,5. 1.4.2 电源端VD。施加规定的电压值,5.1.4.3 被测输入端流入或流出电流调整到规定值，其余输入端施加规定的条件,5.1.4.4 在被测输入端测得价K0,5.1.……
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